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半導(dǎo)體參數(shù)測試儀CV+IV曲線掃描儀
SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)測試儀CV+IV曲線掃描儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料研面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體特性曲線測試儀IV曲線掃描儀
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%面議2025-04-08 -
半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)測試設(shè)備
普賽斯半導(dǎo)體分立器件測試設(shè)備,集多種測量和分析功能一體,可以精準(zhǔn)測量IGBT功率半導(dǎo)體器件的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結(jié)電容,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。詳詢一八一四零六六三四七六面議2025-04-08 -
功率器件功能高壓測試模塊
E系列功率器件功能高壓測試模塊特點和優(yōu)勢： 十ms級的上升沿和下降沿； 單臺最大3500V的輸出； 0.1%測試精度； 同步電流或電壓測量； 支持程控恒壓測流，恒流測壓，便于掃描測試；詳詢一八一四零六六三四七六； 部分參數(shù) 最大輸出功率：350W，3500V面議2025-04-08 -
國產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀1200V/100A
SPA-6100國產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試；SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助面議2025-04-08 -
大電流電源3000A電流源
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備，產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段，實現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2025-04-08 -
E系列功率器件功能高壓測試模塊
武漢普賽斯儀表有限公司，是一家專注于半導(dǎo)體的電性能測試儀表的開發(fā)、生產(chǎn)與銷售的研發(fā)型高新技術(shù)企業(yè)。公司以源表為核心產(chǎn)品，專注于第三代半導(dǎo)體測試，提供從材料、晶圓、器件的全系列解決方案。 未來，普賽斯儀表基于國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表（SMU）的測試方案，以更優(yōu)面議2025-04-08 -
精密國產(chǎn)電流源高精度IV曲線測試掃描儀
精密國產(chǎn)電流源高精度IV曲線測試掃描儀優(yōu)勢 ? 性能強大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮。A(yù)防器件損壞。覆蓋0-3A的電流范圍0-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量面議2025-04-08 -
旁路二極管熱性能測試脈沖電流源
熱斑效應(yīng)：太陽能電池一般是由多塊電池組件串聯(lián)或并聯(lián)起來。串聯(lián)支路中可能由于電池片內(nèi)部缺陷或者外部遮擋，將被當(dāng)作負(fù)載消耗其他有光照的太陽電池組件所產(chǎn)生的能量。被遮蔽的太陽電池組件此時會嚴(yán)重發(fā)熱而受損。旁路二極管是指并聯(lián)于太陽能電池板正負(fù)極兩端之間的二極管，面議2025-04-08 -
功率器件分析儀igbt模塊測試機
功率器件分析儀igbt模塊測試機特點 高電壓：支持高達(dá)3.5KV高電壓測試（Z大擴展至10kV）； 大電流：支持高達(dá)6KA大電流測試（多模塊并聯(lián)）； 高精度：支持uΩ級導(dǎo)通電阻、nA級漏電流測試； 豐富模板：內(nèi)置豐富的測試模板，方便用戶快速配置測試參數(shù)； 配置導(dǎo)出：支持一鍵面議2025-04-08 -
apd暗電流測試數(shù)字源表
在APD的光電特性中，暗電流是一個重要的參數(shù)。暗電流是指在沒有光照射的情況下，APD中由于熱激發(fā)等原因?qū)е碌碾娮悠坪碗娮?空穴對產(chǎn)生而產(chǎn)生的電流，暗電流測試的準(zhǔn)確性對于評估APD的性能和穩(wěn)定性非常重要。在進(jìn)行APD暗電流測試時，通常面臨如下挑戰(zhàn)：測試環(huán)境影響、連接面議2025-04-08 -
晶體管iv圖示儀分立器件檢測儀
晶體管泛指一切以半導(dǎo)體材料為基礎(chǔ)的單一元件，是一種半導(dǎo)體器件，放大器或電控開關(guān)常用；包括各種半導(dǎo)體材料制成的二極管、三極管、場效應(yīng)管、晶閘管（后三者均為三端子）等。晶體管具有檢波、整流、放大、開關(guān)、穩(wěn)壓、信號調(diào)制等多種功能，晶體管可用于各種各樣的數(shù)字和模面議2025-04-08 -
二三極管iv測試儀iv曲線掃描儀
半導(dǎo)體分立器件根據(jù)基材不同,可分為不同類型。以硅基半導(dǎo)體為基材時,半導(dǎo)體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場效應(yīng)晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)等；以寬禁帶材料半導(dǎo)體為基材時,半導(dǎo)體分立器件主要包括:SiC.GaN半導(dǎo)體功率器件。面議2025-04-08 -
高電壓大電流功率器件測試機
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備，產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段，實現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和面議2025-04-08 -
電阻式傳感器電性能分析SMU數(shù)字源表
電阻式傳感器電性能分析SMU數(shù)字源表 實時測試多種材料在同-環(huán)境條件下的電阻值的反應(yīng)靈敏; 在低電壓下進(jìn)行下高范圍跨度(Q、 KQ、MQ、GQ)的電阻測量，測試設(shè)備輸入電阻要求高; I/N曲線掃描; 上位機實時顯示各不同壓敏電阻R/t曲線，并可記錄存檔。 S系列源表+上位機軟件面議2025-04-08 -
1200V半導(dǎo)體分析儀替代4200
SPA-6100型1200V半導(dǎo)體分析儀替代4200是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料研究、面議2025-04-08 -
霍爾測試系統(tǒng)霍爾測試儀
產(chǎn)品簡介 霍爾測試系統(tǒng)霍爾測試儀集多種測量和分析功能一體，可精準(zhǔn)測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù)，單臺大電流源電流可高達(dá)1000A。該系統(tǒng)可測量不同電流傳感器的靜態(tài)與動態(tài)參數(shù)，具有大電流特性、極快的達(dá)到300A/us級面議2025-04-08 -
DC參數(shù)測試iv掃描源表
芯片測試作為芯片設(shè)計、生產(chǎn)、封裝、測試流程中的重要步驟，是使用特定儀器，通過對待測器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測，區(qū)別缺陷、驗證器件是否符合設(shè)計目標(biāo)、分離器件好壞的過程。其中直流參數(shù)測試是檢驗芯片電性能的重要手段之一，常用的測試方法是FIMV（加電流測電壓）面議2025-04-08 -
功率mos測試脈沖源表30A數(shù)字源表
PXOOB系列功率mos測試脈沖源表30A數(shù)字源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)30A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中。PXOOB系列源面議2025-04-08 -
分立器件檢測儀iv+cv測試儀
SPA-6100分立器件檢測儀iv+cv測試儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng)，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試，旨在幫助加快前沿材料研究、半面議2025-04-08
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