文章摘要: 脈沖電壓發(fā)生器的主體采用多級(jí)并聯(lián)和串聯(lián)的方法。在非測試階段使用不同的接地方法或一系列小于500Ω的電阻,然后接地;在測試電路中串聯(lián)一個(gè)電感電阻。在我公司生產(chǎn)的整流電飯鍋?zhàn)儔浩鞯睦纂姏_擊耐壓測試中,為了獲得更理想的測試波形,采用了上述方法進(jìn)行調(diào)試
脈沖電壓發(fā)生器的主體采用多級(jí)并聯(lián)和串聯(lián)的方法。在非測試階段使用不同的接地方法或一系列小于500Ω的電阻,然后接地;在測試電路中串聯(lián)一個(gè)電感電阻。在我公司生產(chǎn)的整流電飯鍋?zhàn)儔浩?/strong>的雷電沖擊耐壓測試中,為了獲得更理想的測試波形,采用了上述方法進(jìn)行調(diào)試。以高壓A相測試為例。在測試過程當(dāng)中,連接了脈沖電壓發(fā)生器主體的四級(jí)串聯(lián)輸出,主電容為0.67μF;測得的四級(jí)分壓器的分壓比為1375。被測電飯鍋?zhàn)儔浩鞯腁相電壓輸入端,非測試相接地。高壓中性點(diǎn)對點(diǎn)纏繞電阻;低壓側(cè)的所有插座都接地。在A相測試期間,將電飯鍋?zhàn)儔浩鞯臒o勵(lì)磁分接開關(guān)置于Ⅰ位置,并且電飯鍋?zhàn)儔浩鞯碾妷赫{(diào)節(jié)器和正負(fù)相移主電飯鍋?zhàn)儔浩饕材艿挚箾_擊波。
正負(fù)相移主電飯鍋?zhàn)儔浩?/strong>的電容對A相入口電容有很大的影響,對入射波前時(shí)間和波尾時(shí)間有很大影響。在B相測試期間,將電飯鍋?zhàn)儔浩?/strong>的無勵(lì)磁分接開關(guān)置于Ⅱ位置,并在調(diào)壓電飯鍋?zhàn)儔浩鞲唠娖胶髮_擊波傳輸?shù)秸{(diào)壓電飯鍋?zhàn)儔浩饕约罢?fù)移相主電飯鍋?zhàn)儔浩?。電壓繞組。正,負(fù)相移主要變量對B相或C相波的波前時(shí)間和波尾時(shí)間影響較小。大型整流電飯鍋?zhàn)儔浩髟谶M(jìn)行雷電沖擊耐受測試時(shí),基本上可以通過上述方法將波形調(diào)整至標(biāo)準(zhǔn)要求的參數(shù)。但是,在測試過程當(dāng)中,有載分接開關(guān)處于1抽頭,并且還提供非勵(lì)磁分接開關(guān)。在位置Ⅰ,沖擊波的入射波等效于同時(shí)進(jìn)入三個(gè)電飯鍋?zhàn)儔浩鳌H肟陔娙莺艽?,波頭時(shí)間將大于標(biāo)準(zhǔn)要求的1.2±30%μs。為了確??梢栽跇O限抽頭位置進(jìn)行測試,并且波尾時(shí)間可以滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。在其他情況下無法通過其他方法縮短波前時(shí)間的情況下,僅放松波前時(shí)間即可滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。
電飯鍋?zhàn)儔浩鱸變壓器高壓繞組方式解析
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