文章摘要: ? 隨著微電子技術(shù)的發(fā)展,對(duì)半導(dǎo)體器件的要求也越來越高,不僅體積縮小,準(zhǔn)確度也要不斷提高。因此,半導(dǎo)體整理工程也需要不斷完善。特別是在晶圓切割過程當(dāng)中,例如切割時(shí),要減少半導(dǎo)體邊緣破裂的危險(xiǎn),減少廢物。為此,切削葉片須越來越薄,對(duì)葉片的剛度和
? 隨著微電子技術(shù)的發(fā)展,對(duì)半導(dǎo)體器件的要求也越來越高,不僅體積縮小,準(zhǔn)確度也要不斷提高。
因此,半導(dǎo)體整理工程也需要不斷完善。特別是在晶圓切割過程當(dāng)中,例如切割時(shí),要減少半導(dǎo)體邊緣破裂的危險(xiǎn),減少廢物。為此,切削葉片須越來越薄,對(duì)葉片的剛度和硬度要求越來越高。目前正在不斷開發(fā)高密度晶片,以便為單位晶片獲得更多半導(dǎo)體元件。因此,工作條件越來越嚴(yán)格。晶圓地板的材料硬度高,一般刀片難以切割,因此應(yīng)考慮金剛石刀片。使用鉆石刀片時(shí),刀刃會(huì)晃動(dòng)和振動(dòng),內(nèi)部應(yīng)力大,會(huì)發(fā)生變形,刀刃的壽命不高。另外,在現(xiàn)有切割過程當(dāng)中,使用一次性穿透切割,半導(dǎo)體晶片的邊緣破裂,產(chǎn)品的良品率下降。
因此,為了戰(zhàn)勝上述缺點(diǎn),須提供優(yōu)化的晶圓切割方法。
技術(shù)實(shí)施要素:
目的是提供一種優(yōu)化的晶圓切割方法,以減少切割時(shí)晶片的變形,提高半導(dǎo)體收率,提高切割葉片的壽命。
為了達(dá)到這一目的,本發(fā)明的晶圓切割方法如下。
提供具有相對(duì)一、二表層的晶片。
晶片上所述第二表層附著有保護(hù)膠。
切割從所述一表層的預(yù)定位置向所述二表層的方向形成第一凹槽,切割深度小于所述晶片的總深度。而且在所述一表層的預(yù)定位置,在所述二表層的方向上,一切削形成第一凹槽,切削深度小于所述晶片的總深度。
與傳統(tǒng)的首次穿透性切割相比,通過在晶圓的不同表層進(jìn)行第二次切割,可以避免半導(dǎo)體晶圓的切割邊緣破裂,提高收率,從而避免刀片變形,提高刀片壽命。
作為一種更好的方法,所述晶體的第一表層附著有相應(yīng)的保護(hù)膠。
更好,保護(hù)膠是UVB膠。
在更好的情況下,所述首要切割的切割深度是所述晶片整體深度的一半。
? 芯片晶圓切割機(jī)是主軸轉(zhuǎn)速約在30,000 ~ 60,000rpm之間的非常精密的設(shè)備,由于顆粒和晶粒之間的間隙小(約2mil,1mil=1/1000英寸),顆粒相當(dāng)脆弱,所以精度相當(dāng)高(3m為205毫米),如果用碾磨的方式切割,會(huì)產(chǎn)生很多小碎屑。除上述幾點(diǎn)外,整個(gè)芯片切割機(jī)過程當(dāng)中要注意的事項(xiàng)還相當(dāng)多。例如,顆粒完全分割,但不可承載的膠帶須切割,切割時(shí)不可沿著顆粒和晶粒之間的切割線脫離,切割后不可引起晶粒的崩塌或開裂。為了解決其中的許多問題,將各種自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)調(diào)整和自動(dòng)清洗設(shè)備應(yīng)用于機(jī)器,以減少切割時(shí)出現(xiàn)的錯(cuò)誤造成的損失。
晶圓切割的方法與作用介紹
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