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  • 半導(dǎo)體特性測(cè)試儀IV曲線掃描儀

    半導(dǎo)體特性測(cè)試儀IV曲線掃描儀

    半導(dǎo)體特性測(cè)試儀IV曲線掃描儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級(jí)至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案?;詳詢一八一四零六六三四七六; S型數(shù)字源表應(yīng)用
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    2025-02-27
  • 寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

    寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

    寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀特點(diǎn): 30μV-1200V,1pA-100A寬量程測(cè)試能力; 測(cè)量精度高,全量程下可達(dá)0.03%精度; 內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測(cè)試程序,直接調(diào)用測(cè)試簡(jiǎn)便; 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取,數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù); 在CV和IV測(cè)量之間快速切換而無(wú)需重
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    2025-02-27
  • 半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng)CV+IV測(cè)試儀

    半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng)CV+IV測(cè)試儀

    SPA-6100半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng)CV+IV測(cè)試儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng),具有高精度、寬測(cè)量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測(cè)試,旨在幫助加快前沿材料
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    2025-02-27
  • MEMS氣體傳感器測(cè)試系統(tǒng)

    MEMS氣體傳感器測(cè)試系統(tǒng)

    通常,氣體傳感器 I-V 特性測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而,由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析,過(guò)程既復(fù)雜又耗時(shí),還占用過(guò)多測(cè)試臺(tái)的空間。而且,使用單一功能的測(cè)試儀器和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,有更
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    2025-02-27
  • 汽車電流傳感器標(biāo)定測(cè)試設(shè)備

    汽車電流傳感器標(biāo)定測(cè)試設(shè)備

    汽車電流傳感器標(biāo)定測(cè)試設(shè)備簡(jiǎn)介 電流傳感器測(cè)試系統(tǒng)集多種測(cè)量和分析功能一體,可精準(zhǔn)測(cè)量各種電流傳感器(霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等)的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù),單臺(tái)大電流源電流可高達(dá)1000A。該系統(tǒng)可測(cè)量不同電流傳感器的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù),具有大電流特性、極
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    2025-02-27
  • 大電流脈沖源表

    大電流脈沖源表

    P系列功率mos管I-V電性能測(cè)試大電流脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達(dá)10A,Z大輸出電壓達(dá)300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中。P系列源表
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    2025-02-27
  • 高精度源表IV測(cè)試憶阻器直流特性

    高精度源表IV測(cè)試憶阻器直流特性

    憶阻器基礎(chǔ)性能研究測(cè)試 憶阻器件的評(píng)估,一般包括直流特性、脈沖特性與交流特性測(cè)試,分析器件在相應(yīng)的直流、脈沖與交流作用下的憶阻特性,以及針對(duì)憶阻器件的保持力、穩(wěn)定性等非電學(xué)特性進(jìn)行測(cè)量。 直流l-V特性測(cè)試 不同極性、不同大小的電壓(電流)激勵(lì)會(huì)
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    2025-02-27
  • 數(shù)字源表助力工程師提取半導(dǎo)體器件IV電性能參數(shù)

    數(shù)字源表助力工程師提取半導(dǎo)體器件IV電性能參數(shù)

    半導(dǎo)體分立器件是組成集成電路的基礎(chǔ),包含大量的雙端口或三端口器件,如二極管,晶體管,場(chǎng)效應(yīng)管等。 直流 I-V 測(cè)試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析,或 I-V 曲線,來(lái)決定器件的基本參數(shù)。微電子器件種類繁多,引腳數(shù)量和待測(cè)參數(shù)各不相
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    2025-02-27
  • 基于數(shù)字源表的高校微電子教學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)

    基于數(shù)字源表的高校微電子教學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)

    基于數(shù)字源表的高校微電子教學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)特色: 1、外觀簡(jiǎn)潔緊湊集成度高 2、通用開(kāi)放型儀表平臺(tái) 以數(shù)字源表(SMU)為核心,覆蓋所有材料器件的直流特性測(cè)試;示波器、信號(hào)源、數(shù)字電橋等通用儀表完成動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試實(shí)驗(yàn)。 3、模塊化設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)夾具盒 4、引入集
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    2025-02-27
  • 功率mos管電性能分析IV測(cè)試大電流源表

    功率mos管電性能分析IV測(cè)試大電流源表

    P系列功率mos管電性能分析IV測(cè)試大電流源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表,匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,Z大脈沖輸出電流達(dá)10A,Z大輸出電壓達(dá)300V,支持四象限工作,因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中。P系列源表適
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    2025-02-27
  • led漏電流測(cè)試高精度源表

    led漏電流測(cè)試高精度源表

    LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動(dòng)下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過(guò)對(duì)LED電特性的測(cè)試,可以獲得對(duì)應(yīng)正向電壓(Vf)、反向電壓(Vr)及漏電流(Ir)等參數(shù),以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測(cè)試方法一般為在LED器件的兩端,加電壓測(cè)試電流,或者加電流測(cè)試電壓
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    2025-02-27
  • 雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表

    雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表

    雙極性電源數(shù)字源表直流3A精密源表優(yōu)勢(shì) ? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源,并同步測(cè)量電流和或電壓,支持四象限工作??梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮。A(yù)防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍,全量程測(cè)量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測(cè)量
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    2025-02-27
  • GaN HEMT器件特性測(cè)試儀

    GaN HEMT器件特性測(cè)試儀

    GaN HEMT器件的評(píng)估一般包含直流特性(直流l-V測(cè)試)、頻率特性(小信號(hào)S參數(shù)測(cè)試)、功率特性(Load-Pull測(cè)試)。GaN HEMT器件特性測(cè)試儀就找普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六; 基于普賽斯S/CS系列源表的直流l-V特性測(cè)試系統(tǒng) 基于普賽斯Р系列脈沖源表/CP系列恒壓
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    2025-02-27
  • 高電壓大電流igbt靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    高電壓大電流igbt靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    為應(yīng)對(duì)各行各業(yè)對(duì)IGBT的測(cè)試需求,武漢普賽斯正向設(shè)計(jì)、精益打造了一款高精密電壓-電流的IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),可提供IV、CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測(cè)試,具有高精度、寬測(cè)量范圍、模塊化設(shè)計(jì)、輕松升級(jí)擴(kuò)展等優(yōu)勢(shì),旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁
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    2025-02-27
  • KV級(jí)高壓電源3500V高壓程控電源

    KV級(jí)高壓電源3500V高壓程控電源

    E系列KV級(jí)高壓電源3500V高壓程控電源特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì): 十ms級(jí)的上升沿和下降沿; 單臺(tái)最大3500V的輸出; 0.1%測(cè)試精度; 同步電流或電壓測(cè)量; 支持程控恒壓測(cè)流,恒流測(cè)壓,便于掃描測(cè)試; 應(yīng)用領(lǐng)域: 用于IGBT擊穿電壓測(cè)試,IGBT動(dòng)態(tài)測(cè)試母線電容充
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    2025-02-27
  • PL202型脈沖式直流電源

    PL202型脈沖式直流電源

    PL202型脈沖式直流電源特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì): 超窄至1us的脈沖; 大到30A的脈沖電流; 最大300A/us上升速度; 兼容CW和QCW模式; 豐富的軟件接口; PL202型脈沖式直流電源應(yīng)用 醫(yī)療、美容激光器,典型波長(zhǎng)為808nm等 光纖、固體激光器的泵浦源,典型波長(zhǎng)為53
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    2025-02-27
  • 半導(dǎo)體器件IV+CV測(cè)試儀

    半導(dǎo)體器件IV+CV測(cè)試儀

    半導(dǎo)體器件IV+CV測(cè)試儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表,相比于傳統(tǒng)S系列源表,準(zhǔn)確度提升至±0.03%,直流電流升級(jí)至3A,可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案?,詳詢一八一四零六六三四七六; S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢(shì):
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    2025-02-27
  • led&二極管反向漏電流測(cè)試設(shè)備

    led&二極管反向漏電流測(cè)試設(shè)備

    led&二極管反向漏電流測(cè)試設(shè)備測(cè)試項(xiàng)目 集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat 集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges 柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th) 輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容 續(xù)流二極管壓降
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    2025-02-27
  • 二極管&led反向擊穿電壓測(cè)試設(shè)備

    二極管&led反向擊穿電壓測(cè)試設(shè)備

    二極管&led反向擊穿電壓測(cè)試設(shè)備具有輸出及測(cè)量電壓高(3500V)、能輸出及測(cè)量微弱電流信號(hào)(1nA)的特點(diǎn)。設(shè)備工作在第一象限,輸出及測(cè)量電壓0~3500V,輸出及測(cè)量電流0~100mA。支持恒壓恒流工作模式,同時(shí)支持豐富的I-V掃描模式。詳詢一八一四零六六三四七六; 二極管&
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    2025-02-27
  • 硅基and碳化硅特性曲線測(cè)試設(shè)備

    硅基and碳化硅特性曲線測(cè)試設(shè)備

    硅基and碳化硅特性曲線測(cè)試設(shè)備優(yōu)勢(shì) 高電壓、大電流 具有高電壓測(cè)量/輸出能力,電壓高達(dá)3500V(最大可擴(kuò)展至10kV) 具有大電流測(cè)量/輸出能力,電流高達(dá)6000A(多模塊并聯(lián)) 高精度測(cè)量 nA級(jí)漏電流, μΩ級(jí)導(dǎo)通電阻 0.1%精度測(cè)量 模塊化配置
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    2025-02-27
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