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精密?chē)?guó)產(chǎn)電流源高精度IV曲線(xiàn)測(cè)試掃描儀
精密?chē)?guó)產(chǎn)電流源高精度IV曲線(xiàn)測(cè)試掃描儀優(yōu)勢(shì) ? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源，并同步測(cè)量電流和或電壓，支持四象限工作?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮。A(yù)防器件損壞。覆蓋0-3A的電流范圍0-300V的電壓范圍，全量程測(cè)量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線(xiàn)制和四線(xiàn)制測(cè)量面議2025-04-08 -
柔性傳感器電性能測(cè)試VI源表
普賽斯儀表攜手業(yè)內(nèi)知名廠商共同打造的柔性電子材料測(cè)試系統(tǒng),通過(guò)組合不同動(dòng)作的測(cè)試夾具,可以模擬扭、轉(zhuǎn)、彎、折、卷等5種基本測(cè)試動(dòng)作, 11個(gè)基礎(chǔ)模擬測(cè)試動(dòng)作,實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用,讓柔性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)化。不僅可以測(cè)試柔性材料的折、彎、扭、拉、卷等五種基本動(dòng)作,而且可以進(jìn)行柔性材面議2025-04-08 -
直流特性IV曲線(xiàn)SMU數(shù)字源表
普賽斯數(shù)字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測(cè)量、3500V高壓下nA級(jí)測(cè)量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產(chǎn)品豐富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%面議2025-04-08 -
脈沖IV特性測(cè)試數(shù)字源表
PXOOB系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)30A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中。PXOOB系列源表適用于各行各業(yè)使用者面議2025-04-08 -
國(guó)產(chǎn)SMU數(shù)字源表高精密IV曲線(xiàn)掃描儀
國(guó)產(chǎn)SMU數(shù)字源表高精密IV曲線(xiàn)掃描儀認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，普賽斯S系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，U秀的性?xún)r(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六 數(shù)字源表基本功能 集多種功能為一體的精密測(cè)量?jī)x器，主要是測(cè)量電氣性能 SMU可以當(dāng)電源,面議2025-04-08 -
MEMS氣體傳感器測(cè)試系統(tǒng)
通常，氣體傳感器 I-V 特性測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成，如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而，由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析，過(guò)程既復(fù)雜又耗時(shí)，還占用過(guò)多測(cè)試臺(tái)的空間。而且，使用單一功能的測(cè)試儀器和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作，有更面議2025-02-27 -
大電流脈沖源表
P系列功率mos管I-V電性能測(cè)試大電流脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)10A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中。P系列源表面議2025-02-27 -
高精度源表IV測(cè)試憶阻器直流特性
憶阻器基礎(chǔ)性能研究測(cè)試 憶阻器件的評(píng)估,一般包括直流特性、脈沖特性與交流特性測(cè)試,分析器件在相應(yīng)的直流、脈沖與交流作用下的憶阻特性,以及針對(duì)憶阻器件的保持力、穩(wěn)定性等非電學(xué)特性進(jìn)行測(cè)量。 直流l-V特性測(cè)試 不同極性、不同大小的電壓(電流)激勵(lì)會(huì)面議2025-02-27 -
GaN HEMT器件特性測(cè)試儀
GaN HEMT器件的評(píng)估一般包含直流特性(直流l-V測(cè)試)、頻率特性(小信號(hào)S參數(shù)測(cè)試)、功率特性(Load-Pull測(cè)試)。GaN HEMT器件特性測(cè)試儀就找普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六； 基于普賽斯S/CS系列源表的直流l-V特性測(cè)試系統(tǒng) 基于普賽斯Р系列脈沖源表/CP系列恒壓面議2025-02-27 -
uApA級(jí)國(guó)產(chǎn)電流源
uApA級(jí)國(guó)產(chǎn)電流源認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數(shù)字源表，相比于傳統(tǒng)S系列源表，準(zhǔn)確度提升至±0.03%，直流電流升級(jí)至3A，可為半導(dǎo)體行業(yè)提供更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定的測(cè)試方案?；詳詢(xún)一八一四零六六三四七六； S型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢(shì)： 1、面議2025-02-27 -
國(guó)產(chǎn)S系列數(shù)字源表有哪些優(yōu)勢(shì)
國(guó)產(chǎn)S系列數(shù)字源表有哪些優(yōu)勢(shì) ? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源，并同步測(cè)量電流和或電壓，支持四象限工作。可以限定電壓或電流輸出大小，預(yù)防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍，全量程測(cè)量精度0.03%。 ? 靈活多樣-支持兩線(xiàn)制和四線(xiàn)制測(cè)量，更準(zhǔn)確的面議2025-02-27 -
寬禁帶材料電性能分析數(shù)字源表
寬禁帶材料電性能分析數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；普賽斯S系列、P系列源表標(biāo)準(zhǔn)的SCPI指令集，Y秀的性?xún)r(jià)比，良好的售后服務(wù)與技術(shù)支持，普賽斯儀表是手家國(guó)產(chǎn)數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品已經(jīng)歷3年迭代完善，對(duì)標(biāo)2400、2450、2611、2601B、2面議2025-02-27 -
寬禁帶器件測(cè)試高電壓大電流源
GaN HEMT器件性能的評(píng)估，一般包含靜態(tài)參數(shù)測(cè)試（I-V測(cè)試）、頻率特性（小信號(hào)S參數(shù)測(cè)試）、功率特性（Load-Pull測(cè)試）。靜態(tài)參數(shù)，也被稱(chēng)作直流參數(shù)，是用來(lái)評(píng)估半導(dǎo)體器件性能的基礎(chǔ)測(cè)試，也是器件使用的重要依據(jù)。以閾值電壓Vgs（th）為例，其值的大小對(duì)研發(fā)人員設(shè)計(jì)器面議2025-02-27 -
光電器件特性參數(shù)分析數(shù)字源表
光電探測(cè)器一般需要先對(duì)晶圓進(jìn)行測(cè)試,封裝后再對(duì)器件進(jìn)行二次測(cè)試,完成Z終的特性分析和分揀操作;光電探測(cè)器在工作時(shí),需要施加反向偏置電壓來(lái)拉開(kāi)光注入產(chǎn)生的電子空穴對(duì),從而完成光生載流子過(guò)程,因此光電探測(cè)器通常在反向狀態(tài)工作;測(cè)試時(shí)比較關(guān)注暗電流、反向擊穿電壓、結(jié)電面議2025-02-27 -
電參數(shù)測(cè)量多合一數(shù)字源表
分立器件特性參數(shù)測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件（DUT）施加電壓或電流，然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng)，通常分立器件特性參數(shù)測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成，如數(shù)字萬(wàn)用表、 電壓源、電流源等。然而由數(shù)臺(tái)儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析，過(guò)程既復(fù)雜又耗時(shí)，又占用過(guò)多測(cè)面議2025-02-27 -
數(shù)字源表如何選型
目前市場(chǎng)上數(shù)字源表琳瑯滿(mǎn)目，如何選擇適合自己、或性?xún)r(jià)比高的源表成為眾多買(mǎi)家比較頭疼的問(wèn)題，其實(shí)只要了解到以下參數(shù)，就不難選型了： 1、源的輸出范圍 2、通道數(shù) 3、是否支持脈沖輸出 4、測(cè)量的精度 5、測(cè)量的速度（采樣率）等 確定了以上參數(shù)后，就面議2025-02-27 -
數(shù)字源表測(cè)試柔性電子材料
柔性電子又稱(chēng)為塑料電子、印刷電子、有機(jī)電子、聚合體電子等，將有機(jī)或者無(wú)機(jī)材料電子器件制作在柔性、可延性塑料或薄金屬基板上的新興電子技術(shù)。由于FPC柔性線(xiàn)路板及電子系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)彎曲、折疊、延展，且功能不會(huì)因此而受到影響，其獨(dú)特的柔性和延展性使得柔性電子在信息、面議2025-02-27 -
數(shù)字源表測(cè)LDO芯片電性能
LDO，全稱(chēng)為“Low Dropout Regulator”，是一種低壓差線(xiàn)性穩(wěn)壓元器件。其工作原理為，使用在其飽和區(qū)域內(nèi)運(yùn)行的晶體管或場(chǎng)效應(yīng)管（FET），從應(yīng)用的輸入電壓中減去超額的電壓，產(chǎn)生經(jīng)過(guò)調(diào)節(jié)的輸出電壓。相比于傳統(tǒng)的DC-DC變換器，LDO具有成本低，噪音低，靜態(tài)電流小的特點(diǎn)，需面議2025-02-27
面議
2025-02-27
高電流脈沖電源測(cè)試電流傳感器響應(yīng)時(shí)間
高電流脈沖電源測(cè)試電流傳感器響應(yīng)時(shí)間認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六
；高電流脈沖電源為脈沖恒流源，具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（10uS）、支持兩路脈沖電壓測(cè)量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點(diǎn)。
設(shè)備可廣泛應(yīng)用于肖特
面議
2025-02-27
A400型數(shù)據(jù)采集卡
A400數(shù)據(jù)采集卡，是一款普賽斯自主設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的高精度數(shù)據(jù)采集卡。
采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可達(dá)16bits，最高支持2MS/s采樣率。單采集卡支持4通道，且通道間隔離。采集卡可應(yīng)用于我司3插卡或10插卡主機(jī)上，單主機(jī)最高支
面議
2025-02-27
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀
大功率IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀集多種測(cè)量和分析功能一體，可精準(zhǔn)測(cè)量功率器件（MOSFET、BJT、IGBT等）的靜態(tài)參數(shù)，電壓可高達(dá)3KV,電流可高達(dá)4KA。該系統(tǒng)可測(cè)量不同封裝類(lèi)型的功率器件的靜態(tài)參數(shù)，具有高電壓和大電流特性，uΩ級(jí)電阻，pA級(jí)電流精準(zhǔn)測(cè)量等特點(diǎn)。支持高壓模式下測(cè)量
面議
2025-02-27
替代2657高壓程控電源
E系列高壓程控電源
特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
10ms級(jí)的上升沿和下降沿；
單臺(tái)最大3000V的輸出；
同步電流測(cè)量；
替代2657高壓程控電源具有輸出及測(cè)量電壓高（3000V）、能輸出及測(cè)量微弱電流信號(hào)（1nA）的特點(diǎn)。設(shè)備工作在第一象限，輸出及測(cè)量電壓0~3000V，輸出及測(cè)量電
面議
2025-02-27
3000V/4000A功率器件分析儀
普賽斯3000V/4000A功率器件分析儀特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
單臺(tái)Z大3000V輸出；
單臺(tái)Z大1000A輸出，可并聯(lián)后Z大4000A；
10us的超快電流上升沿；
同步測(cè)量；
國(guó)標(biāo)全指標(biāo)的自動(dòng)化測(cè)試；詳詢(xún)一八一四零六六三四七六
普賽斯3000V/4000A功率器件分析儀集多種測(cè)量和分
面議
2025-02-27
國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可測(cè)項(xiàng)目
集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces
集電極-發(fā)射極飽和電壓Vce sat
集電極電流Ic，集電極截止電流Ices
柵極漏電流Iges，柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
柵極電阻Rg
電容測(cè)量
I-V特性曲線(xiàn)掃描，C-
面議
2025-02-27
國(guó)產(chǎn)脈沖源表IV測(cè)試憶阻器
國(guó)產(chǎn)脈沖源表IV測(cè)試憶阻器認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；P系列脈沖源表是普賽斯在直流源表的基礎(chǔ)上新打造的一款高精度、大動(dòng)態(tài)、數(shù)字觸摸源表，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能，Z大脈沖輸出電流達(dá)10A，Z大輸出電壓達(dá)300V，支持四象限工
面議
2025-02-27
脈沖電流源LIV測(cè)試光纖激光器泵浦源
脈沖電流源LIV測(cè)試光纖激光器泵浦源認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六
liv脈沖電流源的簡(jiǎn)述:
作用:
主要應(yīng)用于激光雷達(dá)的激光器測(cè)試
功能：
實(shí)現(xiàn)窄脈沖加電的LIV測(cè)試
特點(diǎn)：
（1）超窄脈沖大電流電流加電，能夠滿(mǎn)足VCSEL的晶圓和芯片的
面議
2025-02-27
多通道源表之miniled芯片LIV測(cè)試
源表有一個(gè)簡(jiǎn)單的定義，就是五表合一（電流源、電壓源、電流表、電壓表、電子負(fù)載），也就是源輸出+測(cè)量一體化，不同品牌及不同型號(hào)的源表都符合這個(gè)要求，只是差別在于輸出范圍、測(cè)量精度、速度、通道數(shù)不同。
對(duì)于早期應(yīng)用最為廣泛的2400源表，國(guó)內(nèi)早已推出對(duì)標(biāo)產(chǎn)
面議
2025-02-27
高精度源表測(cè)試LED電性能
LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動(dòng)下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱(chēng)為I-V特性。通過(guò)對(duì)LED電特性的測(cè)試，可以獲得對(duì)應(yīng)正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的I-V曲線(xiàn)。常用的測(cè)試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測(cè)試電流，或者加電流測(cè)試電壓
面議
2025-02-27
上升沿100A/us電流傳感器測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
上升沿100A/us電流傳感器測(cè)試系統(tǒng)集多種測(cè)量和分析功能一體，可精準(zhǔn)測(cè)量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線(xiàn)圈、皮爾森線(xiàn)圈等）的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)，單臺(tái)大電流源電流可高達(dá)1000A。詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；該系統(tǒng)可測(cè)量不同電流傳感器的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)，具
面議
2025-02-27
功率器件測(cè)試采集卡
A400功率器件測(cè)試采集卡，是一款普賽斯自主設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的高精度數(shù)據(jù)采集卡。詳詢(xún)一八一四零六六三四七六
采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可達(dá)16bits，最高支持2MS/s采樣率。單采集卡支持4通道，且通道間隔離。采集卡可應(yīng)用于我
面議
2025-02-27
半導(dǎo)體芯片IV性能測(cè)試儀表
半導(dǎo)體芯片IV性能測(cè)試儀表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；普賽斯儀表S型數(shù)字源表國(guó)產(chǎn)自主研發(fā)，單通道，不支持脈沖輸出，觸摸屏操作，支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)；最大輸出電壓達(dá)300V，最小測(cè)試電流達(dá)100pA，支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出
面議
2025-02-27
半導(dǎo)體材料IV性能分析儀表
半導(dǎo)體材料IV性能分析儀表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；普賽斯S型數(shù)字源表國(guó)產(chǎn)自主研發(fā)，廠家直銷(xiāo)！性?xún)r(jià)比高，測(cè)試范圍更廣，輸出電壓高達(dá)300V，支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出報(bào)告，符合大環(huán)境下國(guó)內(nèi)技術(shù)自給的需求，可及時(shí)與客戶(hù)溝通，為客戶(hù)提供高性?xún)r(jià)比
面議
2025-02-27
LDO電性能測(cè)試用數(shù)字源表
LDO常用的電性能參數(shù)測(cè)試，主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差、線(xiàn)性調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、靜態(tài)電流等。由于LDO的測(cè)試需要分別采集輸入與輸出端的數(shù)據(jù)，因此一般情況下，測(cè)試系統(tǒng)至少需要配置2臺(tái)SMU，并采用上位機(jī)軟件(PssSMUTools)進(jìn)行控制。
普賽斯S系列高精度數(shù)字源表，
面議
2025-02-27
數(shù)字源表之光伏組件PID測(cè)試
PID測(cè)試儀器組成
測(cè)試所需主要儀器為：
步入式環(huán)境測(cè)試箱；
絕緣耐壓測(cè)試儀；
接地連續(xù)性測(cè)試儀；
PID測(cè)試直流電壓源（數(shù)字源表）；
HALM太陽(yáng)模擬器（AAA+級(jí)）；
EL測(cè)試儀等。
測(cè)試所需電源需求
電源電壓：-1500V～0V/ 0～+1500V
電源時(shí)漂：≤0.
面議
2025-02-27
1000A高電流脈沖電源
1000A高電流脈沖電源為脈沖恒流源，具有輸出電流大（1000A）、脈沖邊沿陡（10uS）、支持兩路脈沖電壓測(cè)量（峰值采樣）、支持輸出極性切換等特點(diǎn)。
設(shè)備可應(yīng)用于肖特基二極管、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模塊、IPM模塊等需要高電流的測(cè)試場(chǎng)合，使用該設(shè)備可以獨(dú)立完成“
面議
2025-02-27
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