在機器視覺、表層檢測、物理復制、自動加工、產(chǎn)質(zhì)量量控制、生物醫(yī)學等諸多領(lǐng)域。物體的3D信息必不可少。因此，如何獲得物體的三維信息，即形創(chuàng)三維掃描，已經(jīng)得到了發(fā)展。隨著計算機技術(shù)和光電技術(shù)的飛速發(fā)展，新的三維掃描技術(shù)和測量方法不斷涌現(xiàn)。根據(jù)傳感方式的不同，常用的三維掃描技術(shù)可分為接觸式和非接觸式。接觸式采用檢測頭直接接觸物體表層。將檢測頭反饋的光電信號轉(zhuǎn)換成若干文字形狀信息，從而實現(xiàn)對物體形狀的掃描測量，包括三坐標測量法和電磁數(shù)字測量法。

測量速度慢；檢測某些內(nèi)部成分存在固有的局限性，需要對探頭半徑進行補償才能獲得物體的真實形狀，這就可能造成校正偏差的問題；接觸式探頭在測量時，接觸式探頭的力會引起探頭尖與被測件之間的局部變形，從而影響測量值的實際讀數(shù)；由于探頭觸發(fā)機構(gòu)的慣性和延時，探頭會越出，逼近速度會產(chǎn)生動態(tài)偏差。

隨著計算機機器視覺作為一門新興學科的興起和發(fā)展，利用非接觸式形創(chuàng)三維掃描已成為一種普遍趨勢。這種非接觸測量不僅可以避免接觸測量中探頭半徑補償?shù)穆闊?，而且可以實現(xiàn)對各種表層的高速三維掃描。目前非接觸式三維測量方法很多，包括激光掃描測量、結(jié)構(gòu)光掃描測量和工業(yè) ct 測量，它們包括陰影法、條紋法、聚焦法、光譜儀法和三維模型法，包括飛行時間距離探測法、被動三角測量法等。點激光測量技術(shù):用激光將單個點發(fā)射至物體表層，另一側(cè)用傳感器進行觀察。物體的三維信息通過每個測量點反映出來。它的特色是精度高，但測量速度慢，比三坐標系統(tǒng)快。線激光掃描技術(shù):向物體表層發(fā)射一束光（稱為光刀），用傳感器觀察另一側(cè)變形的光刀，通過解調(diào)光刀的變形來恢復物體的三維信息。

表層掃描技術(shù):所開發(fā)的技術(shù)主要是結(jié)構(gòu)光掃描，利用發(fā)射系統(tǒng)發(fā)射表層光（表層激光或條紋），利用傳感器觀察另一側(cè)的形變條紋，結(jié)合相位技術(shù)和計算機視覺技術(shù)解調(diào)形變條紋，恢復物體的三維信息。這項技術(shù)近年來得到了很大的發(fā)展，可以快速獲取物體表層的表層形狀信息，測量精度高，測量環(huán)境低，在形創(chuàng)三維掃描方面具有很大的優(yōu)勢。代表性的系統(tǒng)有照相3d掃描儀。