測試探針是ICT/FCT測試探針、BGA探針、高頻探針、大電流探針的統(tǒng)一名稱。不管什么探針都有自己的壽命，探針的圖譜一般都有自己的壽命，主要看彈簧的壽命。那么影響測試探針壽命的因素有哪些呢?這里簡單介紹一下影響測試探針壽命的因素。

　　讓我們來談?wù)剛鹘y(tǒng)的ICT/FCT探測器。這些探針的壽命通常約為300.000次，但壽命通常由測試環(huán)境決定。如果測試環(huán)境差，各種雜質(zhì)會進(jìn)入探頭內(nèi)管，造成彈簧損壞，需要更換探頭。這個是小更換，另一個是定期更換探頭。使用一段時間后，就需要更換探針。如果是高頻探頭，這個比較特殊。高頻探頭主要在于高頻探頭的內(nèi)芯，所以更換高頻探頭通常涉及更換內(nèi)芯，可以大大下降成本。

　　一般情況下，探頭越細(xì)越短，所以正常探頭的壽命接近廠家給出的理論壽命。做好治具的保養(yǎng)，治具測試的板潔凈度高。按照探頭規(guī)定的時間表進(jìn)行測試，這樣探頭的更換頻率就低了。