射頻器件頻率特性測試SMU源表
價(jià)格面議2025-02-27 16:07:44
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射頻器件頻率特性測試SMU源表
GaNHEMT器件的評估一般包含直流特性(直流l-V測試)、頻率特性(小信號S參數(shù)測試)、功率特性(Load-Pull測試)。
頻率特性測試
射頻器件的頻率參數(shù)測試包含小信號S參數(shù)、互調(diào)(IMD)、噪聲系數(shù)和雜散等特性的測量。其中,S參數(shù)測試描述了RF器件在不同頻率下和對于信號的不同功率水平的基本特性,量化了RF能量是如何通過系統(tǒng)傳播。
S參數(shù)也就是散射參數(shù)。S參數(shù)是一種描述元器件在表現(xiàn)為射頻特性的高頻信號激勵(lì)下的電氣行為的工具,它描述的方法是以元器件對入射信號作出反應(yīng)(即“散射”)后,從元器件外部“散射”出的可測量的物理量來實(shí)現(xiàn)的,測量到的物理量的大小反應(yīng)出不同特性的元器件會對相同的輸入信號“散射”的程度不一樣。
使用小信號S參數(shù),我們可以確定基本RF特性,包括電壓駐波比(VSWR)、回報(bào)損耗、插入損耗或給定頻率的增益。小信號S參數(shù)通常均利用連續(xù)波(CW)激勵(lì)信號并應(yīng)用窄帶響應(yīng)檢測來測量。射頻器件頻率特性測試SMU源表找生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六；
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周鵬
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