IM3536日本日置HIOKI LCR測試儀

IM3536日本日置HIOKI? LCR測試儀IM3536日本日置HIOKI? LCR測試儀IM3536日本日置HIOKI? LCR測試儀?
DC，4Hz~8MHz測量頻率● 測量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測量時間：快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進行低阻測量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中主機不標(biāo)配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。電解電容器的電容測量：LCR測試儀IM3536根據(jù)JIS標(biāo)準測試電解電容器，電解電容的電容值在不同測試頻率下容值差異較大，因此需要根據(jù)實際回路的工作頻率來確認電容值。
LCR測試儀IM3536寬測試頻率范圍DC,4Hz~8MHz，適用于以上產(chǎn)品特性評估。陶瓷電容器的電容測量：LCR測試儀IM3536陶瓷電容器可分為，隨電壓變化的高介電常數(shù)型和溫度補償型。JIS標(biāo)準針對兩種陶瓷電容特性有不同的測試要求。使用LCR測試儀IM3536的頻率范圍DC,4Hz~8MHz，內(nèi)置電壓范圍10mV~5V，非常適合用于以上兩種不同要求的電容測試。電感器（線圈）的電感測量：LCR測試儀IM3536電感器（線圈）所具備的電感和線圈的寄生電容中將LC共振現(xiàn)象稱為自諧振。 將產(chǎn)生這種自諧振的頻率稱為自諧振頻率。在評估線圈時請在比自諧振頻率更低的頻率下測量L和Q。
LCR測試儀IM3536的測量頻率很廣，可以設(shè)置為DC、4 Hz～8 MHz，可以任意改變測試頻率進行測試。測量電感器的頻率特性：LCR測試儀IM3536LCR測試儀IM3536的測量頻率較廣，可以設(shè)置為DC、4 Hz～8 MHz，非常適合于評估連續(xù)改變頻率的測量。在計算機中安裝附件LCR采用應(yīng)用軟件（CD-R），并通過接口（USB, GP-IB, RS-232C），可以進行掃頻功能，自動測量出的測量數(shù)值能夠以Excel或CSV格式進行保存。寬廣范圍的測量條件下，非常適用于進行研發(fā)和評估實際使用條件的LCR測試儀寬頻率范圍的LCR非常適用于研發(fā)和評估不同工作頻率范圍下壓電元器件和線圈等的諧振頻率。推薦用于評估壓電元件和線圈的共振頻率。若使用應(yīng)用軟件※則能夠簡單的對頻率、電壓和電流進行掃描和測量。
可變頻率：DC, 4 Hz?8 MHz
電壓可變：10 mV?5 V（V模式/CV模式）
電流可變：10 μA?100 mA（CC模式）
※能夠使用計算機設(shè)置掃頻（或電壓、電流），并將測量數(shù)據(jù)以CSV或Excel格式保存。應(yīng)用軟件請使用標(biāo)配的CD進行安裝，或從HP中下載。連續(xù)測量功能：希望以1kHz檢查電源電感的L-Q，還想檢查直流電阻（Rdc）。這時，1臺IM3536就可以在2種測試要求下進行連續(xù)高速測試。?基本參數(shù)測量模式LCR（單一條件下測量），連續(xù)測量（保存條件下連續(xù)測量）測量參數(shù)Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε測量量程100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數(shù)由Z規(guī)定）顯示范圍Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）測量頻率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)測量信號電平[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 1