半導(dǎo)體特性測試儀二手儀器價(jià)格可控硅測試儀

介子分析儀	SY-8219	品牌	Agilent/安捷倫
工作溫度	常溫	顯示方式	數(shù)字式
晶體管	CS-3100	類型	多參數(shù)測試儀

半導(dǎo)體特性測試儀二手儀器價(jià)格可控硅測試儀

IWATSU B-H ANALYZER SY-8218 磁性材料特性測試分析儀二手，
IWATSU B-H ANALYZER SY-8218磁性材料分析、磁性材料特性測試分析儀SY-8219



用于超寬帶域的高頻材料分析

SY-8218: 10Hz ～ 10MHz

SY-8219: 10Hz ～ 1MHz



用途

軟磁性材料, 硅鋼片, 電感等

傳統(tǒng)汽車車載電子零部件

電器電子一般電器產(chǎn)品

電子零部件，組件

材料非金屬材料

適合于測試硅鋼片、鐵氧體、非晶體材料等軟磁性材料磁特性

LAN接口（遠(yuǎn)程控制）



產(chǎn)品名稱

型號(hào)

備注

主機(jī)

半導(dǎo)體特性曲線圖示儀

CS-3100

3000V /無高電流模式- CS-301 / CS-500

半導(dǎo)體特性曲線圖示儀

CS-3200

3000V / 400A（高電流模式）- CS-302 / CS-500

半導(dǎo)體特性曲線圖示儀

CS-3300

3000V / 1000A（高電流模式）- CS-302 / CS-500

測試臺(tái)

S型測試臺(tái)

CS-301

CS-3100標(biāo)配

M型測試臺(tái)

CS-302

CS-3200 / CS-3300標(biāo)配

測試適配器

測試適配器

CS-500

主控裝置附送1個(gè)測試適配器

TO型測試適配器

CS-501

適用于TO型封裝（3個(gè)引腳）的插口

鱷魚夾

小型鱷魚夾（紅色） x 10

CS-001

M型測試臺(tái)選件：CS-302

小型鱷魚夾（黑色） x 10

CS-002

M型測試臺(tái)選件：CS-302

軟件選件

半導(dǎo)體參數(shù)搜索

CS-800

該軟件選件需與CS-3000系列配合安裝

半導(dǎo)體參數(shù)測量

CS-810

主控裝置中裝有CS-800時(shí)，該選項(xiàng)可以在PC（可選）上使用。

與電腦全自動(dòng)化的完美結(jié)合
CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測試軟件 (選件)
通過對(duì)主機(jī)的遠(yuǎn)程控制, 可實(shí)現(xiàn)各種自動(dòng)測試的軟件. 傳統(tǒng)上通過曲線圖示儀難以進(jìn)行的疲勞測試. 加熱實(shí)驗(yàn)或同時(shí)控制恒溫箱進(jìn)行多溫度點(diǎn)實(shí)驗(yàn)都可使用本軟件來實(shí)現(xiàn) (附圖)
USB 存儲(chǔ)器
圖像: 數(shù)據(jù)和設(shè)置條件
格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可選擇為黑色或白色, 彩色或單色)
波形數(shù)據(jù): 文本文件和二進(jìn)制文件
遠(yuǎn)程控制工具
如因保密需要而沒法使用USB存儲(chǔ)器時(shí), 可以通過安裝在PC的遠(yuǎn)程控制工具進(jìn)行數(shù)據(jù)存取
以太網(wǎng)

模塊或數(shù)個(gè)芯片, 器件自動(dòng)切換測試
可自動(dòng)控制加熱板, 全自動(dòng)進(jìn)行六合一模塊的溫度特性測量
測試結(jié)果窗口 (附圖)
波形比較功能: 可將產(chǎn)品開發(fā)時(shí)的不穩(wěn)定狀態(tài)或不良分析時(shí)測得的多個(gè)波形進(jìn)行同屏比較, 或通過波形比較來判斷是否合格 (附圖)
產(chǎn)品應(yīng)用
適用于高電壓或高電流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測試
電力電子器件 (如 SiC和GaN) 的電容測量 (選件CS-603A/CS-605A)
可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
靜態(tài)特性測試包括漏電流, 飽和電壓, VF和Vth (附圖)
傳輸特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路模塊的測試功能
器件測試
可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行多個(gè)器件的測試和記錄. 操作員只需根據(jù)器件替換和連接更改來輸入樣本名稱, 以重復(fù)相同的測試. 在既定條件下判斷 (通過/失敗) 將顯示每個(gè)測試與圖像和波形數(shù)據(jù)也將自動(dòng)存儲(chǔ)(附圖)
半導(dǎo)體溫度特性測試評(píng)估
AUX輸出
范圍 關(guān)閉，-40V - +40 V，按100mV分辨率變化
垂直軸
集電極電流 范圍 高電壓模式：1 μA/div - 2 A/div，共20個(gè)范圍，步進(jìn)為1-2-5。
- 高電流模式：100 mA/div - 50 A/div，共9個(gè)范圍，步進(jìn)為1-2-5。
高電流模式：100 mA/div - 100 A/div，共10個(gè)范圍，步進(jìn)為1-2-5。

精度 2%讀數(shù) + 0.05 × VERT/div設(shè)置值或更低（下面的內(nèi)部環(huán)路校正錯(cuò)誤必須加至左邊的公式中。）
3 kV范圍：6 μA、300 V 范圍：1 μA, 30 V 范圍：0.5 μA（僅針對(duì)各電壓范圍面積的10%或以上。）
發(fā)射極電流（泄漏） 范圍 1 nA/div - 2 mA/div，共20個(gè)范圍，步進(jìn)為1-2-5
精度 2%讀數(shù)+ 0.05 × VERT/div設(shè)置值 + 1 nA 或更低
水平軸
集電極電壓 范圍 高電壓模式：50 mV/div - 500 V/div，共13個(gè)范圍，步進(jìn)為1-2-5
- 高電流模式：50 mV/div - 5 V/div，共7個(gè)范圍，切換步進(jìn)為1-2-5
精度 2%讀數(shù) + 0.05 × HORIZ/div 設(shè)置值或更高
基極/發(fā)射極電壓 范圍 50 mV/div - 5 V/div，共7個(gè)范圍，步進(jìn)為1-2-5
數(shù)據(jù)保存/讀取 內(nèi)置：存儲(chǔ)器（設(shè)置：256，REF波形： 4）
外置：移動(dòng)存儲(chǔ)器（連接至USB端口）
（設(shè)置、波形保存/再調(diào)用、屏幕硬拷貝）
USB 1個(gè)端口(USB1.1)
遠(yuǎn)程控制 通過局域網(wǎng)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制：1個(gè)端口(100BASE-TX)
電源/功耗 電源輸入范圍：100 - 240 V AC，
50/60 Hz 功耗：500 VA
配件 CS-301（S型測試臺(tái)）、
CS-500（測試適配器）、
操作手冊、
電源線 CS-302（M型測試臺(tái)）、
CS-500（測試適配器）、
線束、
操作手冊、
電源線
機(jī)械部分
尺寸(mm) 424 (長) x 555.2 (寬) x 221 (H)（不含外部凸出部分） 424 (長) x 555.2 (寬) x 354.5 (H)
（不含外部凸出部分）
重量 約30 kg（不含選配件） 約45 kg（不含選配件）
環(huán)境條件 工作溫度：0 - +40 °C、
保證性能溫度：+10 - +35 ℃